手持式镀层厚度分析仪

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  • 发货地:江苏省苏州昆山市
关键词
镀层测厚仪,镀层厚度分析仪,电镀膜厚仪,手持式镀层测厚仪,手持式X荧光光谱仪
详细说明
探测器Si-PIN探测器 能量分辨率140eV 检出限1~500ppm 元素分析范围16硫(S)~92铀(U) 分析含量范围ppm~99.9% 分析时间1~60秒 激发源50KV/200μA铑靶X光管 准直器Φ4.0mm,Φ2.0mm 检测对象表面金属镀层膜厚 工作电源标配9000mAh锂电池 仪器重量<2kg 仪器尺寸244mm×90mm×330mm

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