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电镀层测厚仪 EDX2000A 上市公司



X射线荧光测厚仪是一种用于非破坏性测量电镀层厚度的设备。其主要特点包括:
1. 非破坏性测量:X射线荧光测厚仪不需要对被测物体进行破坏性测试,可以保持被测物体的完整性。
2. 高精度测量:X射线荧光测厚仪能够提供高精度的测量结果,可以满足对厚度要求较高的应用场景。
3. 广泛适用性:X射线荧光测厚仪适用于多种材料,包括金属、塑料、陶瓷等,可以测量不同厚度范围的物体。
4. 快速测量:X射线荧光测厚仪的测量速度较快,通常只需要几秒钟就可以测量出物体的厚度。
5. 非接触式测量:X射线荧光测厚仪通过发送射线并测量其反射和荧光来测量物体厚度,无需与被测物体接触,避免了可能引起污染或损坏的情况。
6. 易于操作和维护:X射线荧光测厚仪通常具有简单易懂的操作界面,操作方便。同时,对于仪器的维护保养工作也相对简单。
EDX 2000A _00
金属镀层测厚仪是一种用于测量金属表面镀层厚度的仪器。其特点包括:
1. 高精度测量:金属镀层测厚仪采用的测量技术和传感器,能够实现的测量结果,通常精度可达到微米级别。
2. 多功能性:金属镀层测厚仪具备多种测量模式和功能,包括单点测量、多点测量、平均测量等,能够适应不同的应用需求。
3. 便捷:金属镀层测厚仪操作简单,仪器重量轻,便于携带和使用。同时,它的测量速度快,通常只需几秒钟即可完成一次测量。
4. 大范围测量:金属镀层测厚仪能够适应不同材料和不同厚度范围的测量需求,常见的测量范围可达几微米至几百微米。
5. 非破坏性测量:金属镀层测厚仪采用非接触式测量技术,无需对被测金属进行破坏性处理,能够有效保护样品的完整性。
6. 可靠性和稳定性:金属镀层测厚仪具备较高的可靠性和稳定性,能够在不同环境条件下工作,并能提供稳定和一致的测量结果。
总之,金属镀层测厚仪具备高精度、多功能、便捷、大范围测量、非破坏性测量、可靠性和稳定性等特点,适用于金属加工、电镀、热喷涂、薄膜涂层等领域的材料厚度测量。

XRF测厚仪是一种利用X射线荧光原理进行材料厚度测量的仪器。它具有以下特点:
1. 非破坏性测量:XRF测厚仪通过向被测物体发射X射线,测量荧光信号的能量,从而确定物体的厚度,无需对物体进行破坏性检测。
2. 高精度:XRF测厚仪可以实现对不同材料的厚度测量,具有较高的测量精度和准确性。
3. 快速测量:XRF测厚仪采用非接触式测量,测量速度较快,适用于工业生产中需要大量快速测量的场景。
4. 广泛适用:XRF测厚仪可以用于测量金属、塑料、涂层等不同材料的厚度,并可测量不同形状的物体,具有较大的适用范围。
5. 操作简便:XRF测厚仪通常配备有直观的操作界面和易于操作的功能,使得用户可以轻松进行测量和数据处理。
6. 可靠性较高:XRF测厚仪采用的技术和设计,具有较高的稳定性和可靠性,并且具有较长的使用寿命。
XRF测厚仪因其便捷、准确和非破坏性的特点,在材料、建筑、制造业等领域得到广泛应用。
电镀层测厚仪
X荧光镀层测厚仪是一种用于测量金属表面镀层厚度的仪器。它的特点主要包括:
1. 非接触测量:X荧光镀层测厚仪采用无损检测原理,通过X射线和荧光原理进行测量,与被测物体无接触,破坏表面。
2. 快速准确:X荧光镀层测厚仪测量速度快,只需几秒钟即可完成一次测量,而且测量结果准确可靠。
3. 多功能:X荧光镀层测厚仪可以测量不同种类的金属镀层,如镀锌层、镀铬层、镀镍层等,还可以测量多层复合镀层的厚度。
4. 显示直观:X荧光镀层测厚仪通过内置的显示屏直接显示测量结果,操作简便,易于使用。
5. 适用范围广:X荧光镀层测厚仪适用于不业的镀层测量,如汽车、、电子、建筑等领域。
总的来说,X荧光镀层测厚仪具有非接触、快速准确、多功能、显示直观和适用范围广等特点,是一种重要的测试工具。
金属镀层测厚仪主要适用于测量金属表面上的镀层厚度,常见的应用领域包括电镀、喷涂、氧化层、防腐涂层等。该仪器能够快速、准确地测量出金属表面上镀层的厚度,帮助用户控制产品质量,确保镀层达到预期标准。同时,金属镀层测厚仪还可应用于金属材料的检测领域,如钢铁、铝合金、铜合金等材料的厚度测量。总之,金属镀层测厚仪广泛应用于金属加工、电子、化工、等行业。
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