多功能X荧光镀层厚度分析仪
浏览次数：147次
- 产品规格：
- 发货地:江苏省苏州昆山市
关键词
镀层测厚仪,镀层厚度分析仪,rohs检测仪,镀层检测仪,膜厚仪
详细说明
元素测量范围13铝(Al)~92铀(U)
同时检测能力24种元素，五层以上镀层
含量测试范围0.1%~99.9%
分析厚度范围≤50μm
检出限0.005μm
厚度标准偏差≤3%
探测器Fast-SDD探测器
探测器分辨率140±5ev
X射线装置微焦斑W靶光管
分析时间5~40秒
外形尺寸497mm×427mm×468mm
仪器重量45kg
操作环境温度0~30℃，湿度≤70%
工作电源AC220V±5V
m.13510380985.b2b168.com