多导毛细管X荧光镀层测厚仪

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  • 产品规格:EDX-V
  • 发货地:江苏省苏州昆山市玉山镇
关键词
镀层测厚仪,膜厚测试仪,X-ray膜厚仪,镀层检测仪,膜厚仪
详细说明
元素测量范围11钠(Na)~92铀(U) 同时检测元素可同时分析24种元素,五层以上镀层 厚度检测范围0~120μm(视材质有所不同) 厚度标准偏差≤1% 检出限0.001μm 多导毛细管光学器件Φ25μm 检测时间5-30秒 探测器SDD探测器 X射线装置高功率Mo靶射线管 样品观察高分辨率CCD变焦摄像头 摄像头广角+微区相机(可光学放大至500x) 平台移动范围250mm(X)×250mm(Y) 操作环境温度0~30℃,湿度≤70% 工作电源AC220V±5V 外形尺寸660mm×860mm×735mm 仪器重量120kg
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