表面镀金膜厚测试仪
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- 产品规格：
- 发货地:广东省深圳市宝安区松岗街道
关键词
膜厚测试仪,镀层测厚仪,X-ray膜厚测试仪,镀金检测仪,电镀膜厚仪
详细说明
探测器电制冷Si-PIN探测器
能量分辨率低至140eV
检出限2ppm
元素分析范围16硫(S)~92铀(U)
分析含量ppm~99.9%
测量精度0.1%
分析时间60~200秒
样品室尺寸460mm×325mm×90mm
仪器尺寸550mm×420mm×330mm
操作环境温度15-30℃，湿度≤70%
工作电源AC220V±5V
仪器重量45kg
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