天瑞X-ray膜厚测试仪
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- 产品规格：EDX2000A
- 发货地:江苏省苏州昆山市玉山镇
关键词
Xray膜厚仪,膜厚测试仪,XRAY镀层测厚仪,镀层测厚仪,电镀膜厚仪
详细说明
元素检测范围13铝(Al)~92铀（U）
同时检测元素可同时分析24种元素，五层以上镀层
含量测试范围0.1%~99.9%
厚度范围≤50μm
检出限0.005μm
厚度标准偏差≤3%
探测器Fast-SDD探测器
探测器分辨率140±5ev
X射线装置微焦斑W靶光管
检测时间5~40秒
外形尺寸485mm×588mm×505mm
仪器重量60kg
操作环境温度0~30℃，湿度≤70%
工作电源AC220V±5V
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