涂镀层测厚仪 膜厚检测分析成分仪 X荧光镀层测厚仪
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- 产品规格：
- 发货地:广东省深圳市宝安区松岗街道
关键词
膜厚测试仪,镀层测厚仪,X-ray膜厚测试仪,镀金检测仪,电镀测厚仪
详细说明
元素测量范围13铝(Al)~92铀(U)
检出限0.005μm
厚度标准偏差≤3%
探测器Fast-SDD探测器
探测器分辨率140±5ev
X射线装置微焦斑W靶光管
分析时间5~40秒
外形尺寸497mm×427mm×468mm
仪器重量45kg
操作环境温度0~30℃，湿度≤70%
工作电源AC220V±5V
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